<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-id pub-id-type="doi">10.24151/1561-5405-2026-31-1-46-57</article-id><article-id pub-id-type="risc">MERECA</article-id><article-id pub-id-type="udk">537.632</article-id><article-categories><subj-group><subject>Электронное машиностроение</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Digital control system for the electron optics of a scanning electron microscope</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Система цифрового управления электронной оптикой  растрового электронного микроскопа</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Силаев Иван Вадимович</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Силаев</surname><given-names>Иван Вадимович</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Silaev</surname><given-names>Ivan V.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Ivan V. Silaev</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Казьмирук Вячеслав Васильевич</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Казьмирук</surname><given-names>Вячеслав Васильевич</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Kazmiruk</surname><given-names>Vyacheslav V.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Vyacheslav V. Kazmiruk</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-2"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Брагин Алексей Владимирович</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Брагин</surname><given-names>Алексей Владимирович</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Bragin</surname><given-names>Alexey V.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Alexey V. Bragin</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-3"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Радченко Татьяна Ивановна</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Радченко</surname><given-names>Татьяна Ивановна</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Radchenko</surname><given-names>Tatyana I.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Tatyana I. Radchenko</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-4"/></contrib><aff id="AFF-1" xml:lang="ru">Северо-Осетинский государственный университет имени К. Л. Хетагурова, Россия, 362025, Республика Северная Осетия – Алания, г. Владикавказ, ул. Ватутина, 44-46</aff><aff id="AFF-2" xml:lang="ru">Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук, Россия, 142432, г. Черноголовка, ул. Академика Осипьяна, 6</aff><aff id="AFF-3" xml:lang="ru">Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана, Россия, 105005, г. Москва, ул. 2-я Бауманская, д. 5, стр. 1</aff><aff id="AFF-4" xml:lang="ru">Средняя общеобразовательная школа № 26 им. И. А. Плиева, Россия, 362020, Республика Северная Осетия – Алания, г. Владикавказ, пр. Коста, 221</aff></contrib-group><pub-date iso-8601-date="2026-03-03" date-type="pub" publication-format="electronic"><day>03</day><month>03</month><year>2026</year></pub-date><volume>Том. 31 №1</volume><fpage>46</fpage><lpage>57</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/issues/Том 31 №1/sistema_tsifrovogo_upravleniya_elektronnoy_optikoy_rastrovogo_elektronnogo_mikroskopa/</self-uri><self-uri content-type="pdf">http://ivuz-e.ru#</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>Focusing and proper geometry of electron beams is one of the main tasks for developers of devices and installations with their use. The most common electron beam focusing systems are built using magnetic lenses. In this work, the developed multi-channel digital control system for the current in magnetic lenses is presented that allows for precise and stable control over the electron beam focusing process and maintaining its proper geometry. The scanning electron microscope 09-IOE-200 (MREM-200) was used as the test object, where the digital control system for electron beam focusing was installed. The obtained high-quality photographs contain no artifacts that arise in cases of unstable electron beam focusing or distortion of its proper geometry. The original circuit design using an accessible component base and software opens up wide opportunities for further modernization of the developed multi-channel system or its adaptation to new tasks.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Одной из основных задач, стоящих перед разработчиками приборов и установок с применением электронных пучков, является их фокусировка и правильная геометрия. Наиболее распространенные системы фокусировки электронных пучков строятся с использованием магнитных линз. В работе представлена многоканальная система цифрового управления силой тока в магнитных линзах, позволяющая с высокой точностью и стабильностью управлять процессом фокусировки электронного пучка и поддерживать его правильную геометрию. В качестве объекта испытаний использован растровый электронный микроскоп 09-ИОЭ-200 &amp;#40;МРЭМ-200&amp;#41;, в котором установлена цифровая система управления фокусировкой электронного пучка. Полученные фотографии характеризуются высоким качеством и не содержат артефактов, которые возникают в случае нестабильной фокусировки электронного луча либо при искажении его правильной геометрии. Оригинальная схемотехника с доступной элементной базой и программное обеспечение дают возможность модернизировать или адаптировать разработанную многоканальную систему под новые задачи.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>растровый электронный микроскоп</kwd><kwd>магнитные линзы</kwd><kwd>цифро-аналоговый преобразователь</kwd><kwd>аналого-цифровой преобразователь</kwd><kwd>фокусировка электронного пучка</kwd><kwd>микроконтроллер</kwd><kwd>цифровое управление силой тока</kwd><kwd>магнитооптика</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>scanning electron microscope</kwd><kwd>magnetic lenses</kwd><kwd>digital-to-analog converter</kwd><kwd>analog-to-digital converter</kwd><kwd>electron beam focusing</kwd><kwd>microcontroller</kwd><kwd>digital current control</kwd><kwd>magneto-optics</kwd></kwd-group><funding-group/></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Электронно-лучевая сварка. Robur International. Available at: https://www.robur.ru/articles/elektronno-luchevaya-svarka (accessed: 20.10.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>3.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Electron beam welding. Robur International. (In Russ.). Available at: https://www.robur.ru/articles/elektronno-luchevaya-svarka (accessed: 20.10.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>2.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Электронно-лучевые технологии. Ассоциация «Объединение проектировщиков предприятий». Available at: http://www.npopp.ru/userfiles/Документы/elu-robotek-pb.pdf (accessed: 20.10.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>5.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Electron beam technologies. Assotsiatsiya “Ob"edinenie proektirovshchikov predpriyatiy”. (In Russ.). Available at: http://www.npopp.ru/userfiles/Документы/elu-robotek-pb.pdf (accessed: 20.10.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>3.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Сканирующие электронные микроскопы. Мелитэк. Available at: https://melytec-testing.ru/catalog/skaniruyushchie-elektronnye-mikroskopy/ (accessed: 20.10.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>7.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Scanning electron microscopes. Melytec. (In Russ.). Available at: https://melytec-testing.ru/catalog/skaniruyushchie-elektronnye-mikroskopy/ (accessed: 20.10.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>4.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Барабаненков М. Ю., Казьмирук В. В., Савицкая Т. Н. Разработка метода электронно-оптического IN SITU мониторинга периодических структур. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010;(9):35–41. EDN: MVSKMB.</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>9.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Barabanenkov M. Yu., Kazmiruk V. V., Savitskaya T. N. Development of the method of electron-optical in situ monitoring for periodic structure. J. Surf. Investig. 2010;4:733–739. https://doi.org/10.1134/S102745101005006X</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>5.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Казьмирук В. В., Курганов И. Г., Подкопаев А. А., Савицкая Т. Н. Оптимизация электронно-оптической системы растрового электронного микроскопа для измерения размеров микро- и нанообъектов. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2019;(7):36–41. https://doi.org/10.1134/S0207352819070072. EDN: PMYDNO.</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>11.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Kazmiruk V. V., Kurganov I. G., Podkopaev A. A., Savitskaya T. N. Optimization of the electron optical system of a scanning electron microscope for measuring the size of micro- and nanoobjects. J. Surf. Investig. 2019;13:594–599. https://doi.org/10.1134/S1027451019040074</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>6.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Электронный литограф Crestec. ООО Микросистемы. 16.02.2021. Available at: https://www.microsystemy.ru/info/articles/elektronnyy-litograf (accessed: 20.10.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>13.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Electron lithography machine Crestec. Microsystemy. (In Russ.). 16.02.2021. Available at: https://www.microsystemy.ru/info/articles/elektronnyy-litograf (accessed: 20.10.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>7.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Гудилин Д. Ю. RCEM 2020: новое в электронной микроскопии и комплементарных методах. Лаборатория и производство. 2021;(1):46–53. https://doi.org/10.32757/2619-0923.2021.1.16.46.53. EDN: PTRGWR.</mixed-citation></ref><ref id="B14"><label>15.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Gudilin D. Yu. RCEM 2020: New in electron microscopy and complementary methods. Laboratoriya i proizvodstvo = Laboratory and Production. 2021;(1):46–53. (In Russ.). https://doi.org/10.32757/2619-0923.2021.1.16.46.53</mixed-citation></ref><ref id="B15"><label>8.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Медико-технический кластер Московской области. Available at: https://mtcmr.ru/images/data/gallery/209_3355_Prilozhenie-1-Pis_mo-55158-MinProm-(11l).pdf (accessed: 26.12.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B16"><label>17.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Medical-technical cluster of Moscow oblast. (In Russ.). Available at: https://mtcmr.ru/images/data/gallery/209_3355_Prilozhenie-1-Pis_mo-55158-MinProm-(11l).pdf (accessed: 26.12.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B17"><label>9.</label><mixed-citation xml:lang="ru">MCS Electronics BASCOM. Available at: https://www.mcselec.com/ (accessed: 20.10.2025).</mixed-citation></ref><ref id="B18"><label>10.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Силаев И. В., Гончаров И. Н., Магкоев Т. Т., Радченко Т. И. Метод и реализация высокоэффективной диагностики формы электронного зонда растрового электронного микроскопа. Изв. вузов. Электроника. 2020;25(6):497–504. https://doi.org/10.24151/1561-5405-2020-25-6-497-504. EDN: ILWRIN.</mixed-citation></ref><ref id="B19"><label>20.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Silaev I. V., Goncharov I. N., Magkoev T. T., Radchenko T. I. Method and implementation of high-performance diagnostics of form of electron probe of raster electron microscope. Izv. vuzov. Elektronika = Proc. Univ. Electronics. 2020;25(6):497–504. (In Russ.). https://doi.org/10.24151/1561-5405-2020-25-6-497-504</mixed-citation></ref></ref-list>    
  </back>
</article>
